荧光光谱光源f的选择波长是多少:荧光光谱条件KaQk6t

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X射线荧光光谱法

通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）。

我国X射线荧光光谱分析技术的建立始于20世纪50年代末和60年代初，80、90年代，我国学者为满足生产和科研工作的需要，引进了众多的一流X射线荧光光谱仪，制定了大量行之有效的试样分析方法，国内外学术交流不断增多。

个人测试经验，仅供参考：X射线荧光光谱分析仪（XRF）与ICP,AAS测试原理相近，前者是用物理方法，用原子表层电子结合能反应表面化学成份；后两者是用化学方法，利用不同元素的光谱波长及强度进行定性定量分析；XRF优势。

X射线荧光分析法的特点与适应范围是（1）适应范围广除了H，He，Li，Be外，可对周期表中从5B到92U作元素的常量、微量的定性和定量分析。（2）操作快速方便在短时间内可同时完成多种元素的分析。

外层电子跃入该空位，多余的能量产生X射线，荧光X射线则是由X射线或其他电磁波照射原子使原子核外电子激发形成空位，外层电子跃入空位产生X射线，二者都可以表示元素种类，但是产生一个是由电子引起。

而你说的荧光光谱法应该是x射线荧光光谱法即一个阴极射线（电子）发生装置，产生电子流；电子流经高压加速，形成高能量的电子；用高能电子轰击样品，使样品中的各元素的内层电子被击出。

X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。

原子荧光用的光源很多，如各种激光等，但很少见有用X-射线的；而X-射线荧光则是用X-射线作激发光源。二、用途不同。原荧主要用来作定量分析，尤其是金属元素的定量分析；而X荧主要用来作定性分析和结构分析。

波长色散型X射线和能量色散型X射线的区别：原理区别：X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后。

请问荧光分光光度法的问题

光致发光：有些物质受到光照射时，除吸收某种波长的光之外，还会发射出比原来所吸收光的波长更长的光特点：灵敏度高，选择性好，检测限低于紫外-可见分光光度法分为。

分光光度计原理大致是采用一个可以产生多个波长的光源，通过系列分光装置，从而产生特定波长的光源，光线透过测试的样品后，部分光线被吸收，计算样品的吸光值，从而转化成样品的浓度。样品的吸光值与样品的浓度成正比。

回答：因为荧光分析法属于发光分析只有待测物分子可以发出指定波长的荧光紫外-可见分光光度法是吸光光度法除待测物之外其它物质也可能对入射光产生吸收和波长没有关系同学一场。

光栅和滤光片都可以作为单色器。目前，现代精密的荧光光谱仪均用光栅分光器作为单色器(简称光栅单色器)，单色器部分均带有可调的狭缝，用以选择合适的通带。Fluorolog-3型荧光光谱仪狭缝的可调范围通常设为1～5nm。

紫外可见分光光度法的定量分析基础是朗伯-比尔(Lambert-Beer)定律.即物质在一定浓度的吸光度与它的吸收介质的厚度呈正比凡具有芳香环或共轭双键结构的有机化合物,根据在特定吸收波长处所测得的吸收度。

光谱分析法的类型包括：1、可见及紫外分光光度法分光光度法的理论基础是朗伯-比尔（Lamber-Beer）定律。Lamber-Beer定律：A=k·b·cA为吸光度k—吸光系数b—光径，单位：cmc—溶液浓度，单位。

紫外可见分光光度法原理是根据被测物对特定波长处光吸收的多少来计算其浓度（含量）的。

定量的根据是朗伯比尔定律。

影响荧光分光光度法定量测定的主要因素1．激发光照射有一些荧光物质若受到强光照射，会发生分解而导致F↓。所以，荧光分光光度计通常在激发光单色器后装配有光闸，在测定时才打开光闸让激发光照射样品池。2．温度温度↑。

荧光光谱光源f的选择波长是多少

此法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%～80%的试样。仪器波长色散X射线荧光光谱仪器仪，铑靶X光管(≥3kW)。高温熔样机(1100℃以上)。铂金合金坩埚。试剂偏硼酸锂(Li2B2O7)。偏硼酸钠。硝酸钠。碘化钾。

而荧光发射光谱是固定激发波长（不一定是最大激发波长，有的仪器会固定特征波长，像960荧光就固定了激发波长为365nm），测定不同荧光波长时的荧光强度。荧光光谱与激发光波长无关。

荧光光谱主要包括荧光发射光谱和荧光激发光谱两部分。荧光发射光谱是指在特定激发波长照射下，荧光物质发射的荧光波长与相对强度之间的关系曲线。而荧光激发光谱则是指在不同波长激发下。

荧光测定的每一个参数都有很大的影响，第一个问题：测物质的发射光谱时,在激发波长处出峰是正常的吗，答案是：一定有峰。第二个问题，也是一定有峰，第三个问题：你的样品的问题。建议：没有文献可以参考的时候。

波段可以根据各种手印物质的吸收光谱设定，因此可以更加有效地激发手印物质的荧光。此外，多波段光源价格较低且便于携带，适于到现场使用，相对于激光器来说，多波段光源强度低一些，但由于波长选择性强。

三维荧光光谱图一般有三维投影图和等高线荧光光谱图这两种表示方式。物质的荧光强度F与激发光的波长和所测量发射光的波长有关，将F的数据用矩阵形式表示，行和列对应不同的激发光波长和发射光波长。

分子从振动基态v＝0跃迁到激发态v＝2、3、4等所对应的吸收频率称为第一、第二、第三倍频，统称倍频。由于相邻振动能级间间距近似相等，所以第一倍频的频率约为基频的两倍。和吸收或发射光谱没有关系。

发射荧光的光量子数亦即荧光强度,除受激发光强度影响外,也与激发光的波长有关。各个荧光分子有其特定的吸收光谱和发射光谱(荧光光谱),即在某一特定波长处有最大吸收峰和最大发射峰。选择激发光波长量接近于荧光分子的最大吸收峰波长。

既可以看作粒子，也可以看作电磁波。看作粒子时的能量和看作电磁波时的波长有着一一对应关系。这就是著名的普朗克公式：E=hc/λ。显然，无论是测定能量，还是波长，都可以实现对相应元素的分析。

一般而言,荧光光谱总是较相对应的激发光谱()移

下面说说为什么荧光光谱和吸收光谱成镜像。如图所示，基态（S0态）到S1态为吸收光谱，S1态到S0态为荧光谱。一般而言，S0和S1的振动能级间距相对比较接近，所以光谱的形状比较相似；另外。

区别：1、判断方法不同：激发波长是说用什么波长的光去激发荧光,可以用紫外或者可见光，发射波长是说发射出来的荧光的波长,一般的可见光波长的肉眼就能大致判断了。2、分辨率不同：激光波长对杂散光及信噪比的影响十分显著。

下面说说为什么荧光光谱和激发光谱成镜像。如图所示，基态（S0态）到S1态为激发谱，S1态到S0态为荧光谱。一般而言，S0和S1的振动能级相对比较接近能级间距比较近，所以光谱的形状比较相似；另外。

分子荧光光谱法中资料称：激发光谱和发射光谱呈镜像关系，这是因为激发光谱取决于第一电子激发态各振动能级的分布情况，发射光谱取决于基态各振动能级的分布情况。

荧光激发光谱：让不同波长的激发光激发荧光物质使之发生荧光,而让荧光以固定的发射波长照射到检测器上,然后以激发光波长为横坐标,以荧光强度为纵坐标所绘制的图。

对高浓度溶液而言，荧光的再吸收不能忽略。大部分入射光在系统前半部分被吸收，发射的荧光被再吸收，只有少量的荧光通过狭缝入射到荧光探测器上，使得探测到的荧光强度减少。

激发光谱：荧光物质在不同波长的激发光作用下测得的某一波长处的荧光强度的变化情况.发射光谱。

【答案】：激发发射解析：任何发射荧光的物质都具有两个特征光谱：激发光谱和发射光谱。激发光谱反映了某一固定的发射波长下所测量的荧光强度对激发波长的依赖关系。

让不同波长的激发光激发荧光物质使之发生荧光,而让荧光以固定的发射波长照射到检测器上,然后以激发光波长为横坐标,以荧光强度为纵坐标所绘制的图,即为荧光激发光谱.荧光发射光谱的形状与激发光的波长无关。拉曼光谱。

为什么荧光发射光谱的形状与激发波长无关

让不同波长的激发光激发荧光物质使之发生荧光,而让荧光以固定的发射波长照射到检测器上,然后以激发光波长为横坐标,以荧光强度为纵坐标所绘制的图,即为荧光激发光谱.荧光发射光谱的形状与激发光的波长无关。拉曼光谱。

无论是激发还是发射荧光光谱图，其都是记录发射荧光强度随波长的变化。所以荧光光谱中纵坐标为强度，横坐标为波长。首先从图中能获取峰位和半峰宽。峰位的直观体现是荧光的颜色；半峰宽则表示荧光的纯度。

激发光谱是监测物质被激发后发射的某一个波长下的荧光,扫描各个激发波长对这个固定荧光波长的贡献.一般而言,激发光谱与紫外-可见吸收光谱的形状是一致的.但是如果物质的三重态量子产率比较高。

是因为物质在吸收激发光的能量被激发产生荧光的同时还会伴随着有内部的能量损失，并以其它形式释放出来；按照能量守恒，荧光的能量一定少于激发光的能量。

对于量子点溶液，激发波长也会显著导致发射光谱的不同。但是不是绝对的，比如对于Alex555分子，发射波长的便宜往往就相对较小，这是由于分子内部的能带结构所决定的。如果是单纯的回答问题，答案是。

激发光谱的具体检测办法是通过扫描激发单色器，使不同波长的入射光激发荧光化合物，产生的荧光通过固定波长的发射单色器，由光检测元件检测。最终得到荧光强度对激发波长的关系曲线就是激发光谱。在激发光谱曲线的最大波长处。

荧光强度为纵坐标绘制关系曲线，便得到荧光激发光谱，简称激发光谱。若固定激发的波长和强度不变，测量不同波长处发射的荧光强度，绘制荧光强度随发射波长变化的关系曲线，便得到荧光发射光谱。

荧光光谱与激发光谱呈镜像对称关系：每一个吸收能级对应一个发射峰，构成镜像关系。原则上，如果一个电子从一个能级吸收能量跃迁到另一个能级，产生一个吸收峰，再释放出来，形成一个发射峰，这种匹配是合理的。

相对于基态和激发态两个最低振动能级之间的跃迁所产生的荧光称为共振荧光，此时吸收光谱与荧光光谱重叠。（1）荧光光谱的形状和激发光波长无关。

二维、三维荧光光谱的特点及异同?

2、适用范围不同：原子吸收光谱法适用于分析金属元素，而紫外吸收光谱法适用于分析有机物、无机物和生物分子等。3、光谱特点不同：原子吸收光谱是线状光谱。

所谓高光谱遥感,即高光谱分辨率遥感,指利用很多很窄的电磁波波段(通常<10nm)从感兴趣的物体获取有关数据;与之相对的则是传统的宽光谱遥感(通常>100nm)且波段并不连续。高光谱图像是由成像光谱仪获取的。

即通过LCM技术获得感兴趣的细胞类型，制备细胞蛋白质样品，蛋白质经荧光染料标记后和抗体芯片杂交，从而可以比较两种样品蛋白质表达的异同。Clontech最近开发了一张抗体芯片，可以对378种膜蛋白和胞浆蛋白进行分析。

主要包括纳米粒子的XRD表征、纳米粒子透射电子显微镜及光谱分析、纳米粒子的扫描透射电子显微术、纳米团簇的扫描探针显微术、纳米材料光谱学和自组装纳米结构材料的核磁共振表征。

4、选中所绘制的线，并点选分析→数学→积分按钮5、点击确定6、在Book1中即可出现所计算的面积积分还可以通过区域积分法来计算区域积分法（fluorescenceregionalintegration。

⒋；激光扫描共聚焦显微镜在嗅觉研究中的应用D.在肿瘤研究中的应用⒈定量免疫荧光测定⒉细胞内离子分析⒊图像分析。

简单的说是这样：原理一样，都是衍射；都具有倒易属性，可以用尔瓦尔德作图法形象的解释衍射花样的形成原理；衍射路径不同，所以衍射花样不同；电镜中衍射误差大于X射线。

XRF是用来测成分含量的，并不能用来测厚度。而且XRF也不能用来测镀层的，基体影响很大。你说的应该是X光测厚仪，是根据反射回电子通过惰性气体流动产生电流的大小来确定厚度的。X光测厚是无损检测，多用来在线测量。

决定宝石颜色的主要是宝石晶体的吸收和荧光光谱。如果能够使仿宝石的吸收和荧光光谱与所仿的天然宝石光谱完全一致,那么很自然,这种仿宝石将会具有与天然宝石非常相似,甚至完全相同的颜色特征。所以,从光谱拟合出发。

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